XRD测材料grain size - Physics版

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Physics版 - XRD测材料grain size

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我有一个多晶材料，已知［002］面大致平行于材料的一个表面
我用omega-2theta模式测了那个表面，得到了［002］［004］［014］三个peak
直接套用scherrer's formula，得到的结果比较一致
2 theta plane FWHM grain size (nm)
36.211 [200] 0.028 298.5
38.498 [130] 0.036 233.7
42.958 [220] 0.029 294.4
这样做可信么？
我的FWHM是直接把peak fit成gaussian得到的，3个peak看上去都不太对称，都是左半
边（小角度）比右半边高些。需要用2个gaussian来fit么？
如果我想考虑strain和instument broadening的话，可以直接fit这个公式里的A，B，C
么？
2 A 2 2 2
FWHM = (---------- ) + (B tan(theta)

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